ダブルビームUV-Vis分光光度計SP-IUV7

ダブルビームUV-Vis分光光度計SP-IUV7は、優れた試験精度と非常に競争力のある価格を備えており、強力な機能により、定性および定量試験で優れた性能を発揮します。

波長範囲: 190～1100nm
波長精度: ±0.5nm
自動ゼロおよびフルスケール調整
自動波長設定

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説明

ダブルビームUV-Vis分光光度計SP-IUV7の主な特長
1. ダブルビーム光学系とブレーズドホログラフィック
2. G 優れたテスト精度と非常に競争力のある価格を誇ります。
3. 8 インチのカラータッチスクリーン、最先端のユーザーインターフェイス、強力な機能、簡単な操作。
4. 強力な機能を備えたこの装置は、次のような定性および定量テストで優れたパフォーマンスを発揮します。

フルスペクトルスキャン
線形回帰
詳細なスペクトルスキャン
集中直読
時間ベースの速度論的決定
ピーク/谷検出
ゴトーλ
多波長測定

5. 本装置は高度な電源保護システムを搭載しており、大容量の内部メモリを搭載し、検査結果、スキャン画像、回帰式、補正データを保存できます。そのため、電源投入時に迅速に初期化が行われます。
6. 装置は専用のプリンターに接続することができ、テスト結果を印刷したり、スペクトルスキャン、固定波長の時間ベーススキャン、線形回帰から曲線を描画したりできます。
7. USB COM ポートを使用すると、デバイスを PC に接続することができ、データテストやスペクトルスキャンのパフォーマンスが向上するだけでなく、メモリを拡張してより多くのテスト結果を保存することもできます。

仕様

モデル	SP-IUV7
測光	ダブルビーム
モノクロメータタイプ	ツェルニー＝ターナー
焦点距離	160mm
格子	1200本/mm
検出器	シリコン光電池
スペクトル帯域幅	1.8nm
波長設定	8インチカラータッチスクリーン
波長範囲	190～1100nm
波長精度	±0.5nm
波長再現性	≤0.2nm
スキャン速度	高速・中速・低速
迷光	≤0.03%T (220nm NaI、360nm NaNo ₂ )
測光範囲	0.0～200.0%T -0.301-4.000A 0.000～9999℃
測光精度	±0.3%T ±0.002Abs (0-0.5A) ±0.004 絶対値 (0.5-1A)
測光再現性	≤0.15%T 0.001 アブソリュート (0-0.5A) 0.002 アブソリュート (0.5-1A)
ベースライン	≤±0.002A (200-1090nm)
ノイズ	100 %（T）noise≤0.15% (T)、0 %（T）noise≤0.1% (T)
漂流	≤0.0009 Abs/30分（2時間のウォームアップ後、250nmおよび500nm）
力	AC220V±22V 50Hz±1Hz、200W
梱包サイズ	710mm×590mm×505mm 0.21M3 36kg